變壓器綜合測(cè)試儀

變壓器綜合測(cè)試儀
3250/3252/3302變壓器綜合測(cè)試儀，為一提供變壓器生產(chǎn)或品管進(jìn)出料檢驗(yàn)，具有高穩(wěn)定度及高可靠度之精密量測(cè)儀器。3250/3252提供20Hz-200kHz測(cè)試頻率，3302則提供20Hz-1MHz測(cè)試頻率。掃描測(cè)試包括電感量，漏感量，圈數(shù)比，直流電阻，阻抗，線(xiàn)圈間容量等主參數(shù)；品質(zhì)因素，串聯(lián)等效電阻等副參數(shù)，以及出腳短路檢查等。高速數(shù)位取樣技術(shù)及掃描測(cè)試治具(A132501)設(shè)計(jì)，使以往費(fèi)時(shí)低效率的變壓器生產(chǎn)檢驗(yàn)變得精確又快速。3252/3302除了提供變壓器掃描的測(cè)試功能外，也提供LCR Meter功能，可應(yīng)用于各式零件之進(jìn)出料檢驗(yàn)，研發(fā)分析或生產(chǎn)線(xiàn)自動(dòng)化應(yīng)用。

3250變壓器綜合測(cè)試儀

測(cè)試頻率20Hz~200KHz，
精確度0.02%基本量測(cè)準(zhǔn)確度：0.1%
3種阻抗輸出模式選擇，測(cè)量結(jié)果可與各知名廠(chǎng)家之LCR表完全對(duì)比增強(qiáng)式圈數(shù)比
準(zhǔn)確測(cè)量，適用于低磁道率的磁芯。提供各種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試治具及特殊治具訂制四端測(cè)試治
具，可得到DCR，電感量和圈數(shù)比精確穩(wěn)定的測(cè)量。內(nèi)建式比較器，10級(jí)分類(lèi)及計(jì)數(shù)功能
（僅適于3252/3302）2M SRAM記憶卡供機(jī)臺(tái)資料設(shè)定及備份標(biāo)準(zhǔn)RS~232，HANDLER及PRINER
界面50組內(nèi)部?jī)x器設(shè)定可供儲(chǔ)存及呼叫。

測(cè)試參數(shù) 圈數(shù)比（TURN RATIO），相位（PHASE），圈數(shù)（TURN），電感（L）
品質(zhì)因子（Q），漏電感（LK），平衡（BALANCE），交流電阻（ACR）
電容（CP），直流電阻（DCR），接腳短路（PIN SHORT）
測(cè)試電壓 10mV-10V，10mV/STEP
測(cè)試頻率 20Hz~200KHz   

3302變壓器綜合測(cè)試儀

測(cè)試頻率20Hz~1MHz，精確度0.02%基本量測(cè)準(zhǔn)確度：0.1%
3種阻抗輸出模式選擇，測(cè)量結(jié)果可與各知名廠(chǎng)家之LCR表完全對(duì)比增強(qiáng)式圈數(shù)比
準(zhǔn)確測(cè)量，適用于低磁道率的磁芯。提供各種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試治具及特殊治具訂制四端測(cè)試治
具，可得到DCR，電感量和圈數(shù)比精確穩(wěn)定的測(cè)量。內(nèi)建式比較器，10級(jí)分類(lèi)及計(jì)數(shù)功能
（僅適于3252/3302）2M SRAM記憶卡供機(jī)臺(tái)資料設(shè)定及備份標(biāo)準(zhǔn)RS~232，HANDLER及PRINER
界面50組內(nèi)部?jī)x器設(shè)定可供儲(chǔ)存及呼叫。

測(cè)試參數(shù) 圈數(shù)比（TURN RATIO），相位（PHASE），圈數(shù)（TURN），電感（L）
品質(zhì)因子（Q），漏電感（LK），平衡（BALANCE），交流電阻（ACR）
電容（CP），直流電阻（DCR），接腳短路（PIN SHORT）
測(cè)試電壓 10mV-10V，10mV/STEP
測(cè)試頻率 20Hz~1MHz