組件測(cè)試儀/太陽(yáng)能組件測(cè)試儀價(jià)格

SMT-A / SMT-B / SMT-F ：太陽(yáng)能電池組件檢測(cè)設(shè)備　

主要特點(diǎn)：

1. IV性能測(cè)量：短路電流Isc，開路電壓Voc，*大功率Pmax，*大功率電流Ipmax，*大功率電壓Vpmax，填充因子FF和轉(zhuǎn)換效率Eff等；

2. 熱點(diǎn)分析；

3.壽命分析；

4.標(biāo)準(zhǔn)條件測(cè)量；

5.測(cè)量溫度范圍可控；

6.自動(dòng)光照范圍內(nèi)光強(qiáng)均勻性測(cè)量；

儀器介紹

世界*高性能Class AAA級(jí)的大面積穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)光模擬器及組件測(cè)試方案；穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)能模擬器*大照射面積達(dá)3000mm*3000mm（其他尺寸可定制）；適合于各種光電材料、光電器件、太陽(yáng)能電池組件的研究、測(cè)試以及評(píng)價(jià)等；

太陽(yáng)能電池組件檢測(cè)設(shè)備技術(shù)參數(shù)：　

型號(hào)規(guī)格：SMT-A   SMT-B   SMT-F　

輻照不均勻度：≤±2%（SMT-A）   ≤±3%（SMT-B）   ≤±2%（SMT-F）　

輻照不穩(wěn)定度：≤±2%（SMT-A）   ≤±3%（SMT-B）   ≤±2%（SMT-F）　

測(cè)試結(jié)果一致性：≤±0.5%（SMT-A）   ≤±1%（SMT-B）   ≤±0.5%（SMT-F）　

電性能測(cè)試誤差：≤±1%（SMT-A）   ≤±2%（SMT-B）   ≤±1%（SMT-F）　

單次閃光時(shí)間：10ms　

光譜范圍：符合IEC60904-9要求（A級(jí)）　

輻照強(qiáng)度：100mW/cm2(調(diào)節(jié)范圍70~120mW/cm2)　

有效測(cè)試面積：1200mm×2000mm　

有效測(cè)試范圍：10W~300W　

測(cè)量電壓：1V~10V(分辨率1mV)　

測(cè)量電流：100mA~20A(分辨率1mA)　

測(cè)試參數(shù)：Isc 、Voc 、Pmax 、Vm 、Im 、FF、 EFF 、Temp　

數(shù)據(jù)采集：含8000個(gè)數(shù)據(jù)采集點(diǎn)　

太陽(yáng)能電池組件檢測(cè)設(shè)備應(yīng)用領(lǐng)域：專門用于太陽(yáng)能單晶硅、多晶硅、非晶硅電池組件的電性能測(cè)試。　

其他相關(guān)設(shè)備：

1. AAA級(jí)太陽(yáng)光模擬器：2inch×2inch，4inch×4inch，6inch×6inch，8inch×8inch，10inch×10inch，12inch×12inch，500mm*500mm，2000mm*1200mm，1800mm*1500mm，1400mm*1100mm，2200mm*1600mm, 3000mm*3000mm等（其他尺寸可定制）；

2、AAA級(jí)組件/模組測(cè)試儀；

3. 大面積穩(wěn)態(tài)太陽(yáng)光模擬器（AAA級(jí)，組件測(cè)試）；
聯(lián)系人：陶女士

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