CUT-Z5高校試驗專用超聲波探傷儀

 CUT-Z5高校試驗專用超聲波探傷儀,專為解決高校在科研及試驗過程中遇到的特殊及常規(guī)檢測問題的客戶帶來*簡單的使用操作及*實(shí)用的功能,可為客戶單獨(dú)設(shè)計與制定方案及儀器功能,全系列高端超聲波探傷儀集性能、快捷、專業(yè)、便攜于一身，精準(zhǔn)滿足各種苛刻需求。超越主流的性能與亞測產(chǎn)品特質(zhì)**美融合，從經(jīng)歷中錘煉技巧，有勇氣挑戰(zhàn)極限。靈敏的反饋、上乘的性能，數(shù)字內(nèi)涵模擬體驗、沒有雜波干擾的舒暢感覺，它就像您的第六感官，隨您想法而動。CUT-Z5高校試驗專用超聲波探傷儀更像是一款披著便攜外衣的檢測工作站，必將帶領(lǐng)您進(jìn)入檢測的更高境界。       

CUT-Z5高校試驗專用超聲波探傷儀基本功能：

1．儀器性能自動測定，可測試探頭K值和材料聲速。并具有射頻波功能。

2．內(nèi)置中文漢字輸入法，全中文提示操作界面，上手即簡單，可直接編寫探傷報告。

3. 九十個探傷通道，可存儲九十套探傷參數(shù)u

4．內(nèi)置多種常用標(biāo)準(zhǔn)，如GB11345、JB4730、ASM等標(biāo)準(zhǔn)，也可根據(jù)實(shí)際工件（如焊縫、鍛件、鑄件、管材、板材、車軸、車輪、小管徑等）生成自定義探傷工藝，現(xiàn)場探傷無需攜帶試塊。有*新的裂紋測高高級探傷軟件

5．DAC、AVG、分貝DAC曲線自動生成，曲線隨增益自動浮動，隨聲程自動擴(kuò)展。

6.峰值記憶、包絡(luò)功能，尋找*高波形更加容易。帶有聲光報警可能。u100000幅探傷數(shù)據(jù)存貯（可內(nèi)置SD卡）存儲，可完成屏幕和存儲數(shù)據(jù)的打印（支持各種打印機(jī)）或計算機(jī)通訊（支持 Windowsxp），波形可粘貼到用戶自定義表格，檢測報告更為實(shí)用。具有網(wǎng)絡(luò)通訊功能和U盤讀寫功能。

7.可連接打印機(jī)，打印探傷報告和探傷波形

8．具有雙閘門捕捉波形功能

9．5.7寸TFT彩屏顯示，用戶可以按照環(huán)境自行設(shè)置屏幕顏色

10．B掃描分顏色B掃描和厚度B掃描

11．錄像時間長達(dá)60分鐘

12．曲面修正：根據(jù)曲面的直徑自動修正缺陷位置的檢測結(jié)果

13．自動測量、計算裂紋深度

14．實(shí)時檢索缺陷*高波，記錄缺陷*大值

15．對缺陷回波進(jìn)行波峰軌跡描繪，輔助對缺陷定性判斷

16．焊縫圖示功能

17．主菜單，子菜單在同一窗口顯示。無需尋找，一目了然。操作簡單方便

18．大容量鋰電池，低功耗設(shè)計，可連續(xù)工作20個小時以上

19．?dāng)?shù)據(jù)可通過USB線直接導(dǎo)入計算機(jī)

20．多種行業(yè)報告可選

21.具備A掃和B掃兩種掃描方式

22.DGS（AVG）曲線適用于鍛件等工件的探傷

23.具備閘門內(nèi)峰值自動捕捉功能

24.擁有直探頭、斜探頭自動校準(zhǔn)功能，使用簡單方便

25.Ф值自動計算功能

26.EL顯示屏，強(qiáng)光，弱光環(huán)境，陽光下可清晰顯示

27.可將波形和通道參數(shù)直接存儲到U盤中，也可通過盤-盤拷貝的形式將已存儲在探傷儀內(nèi)的數(shù)據(jù)一次倒入U盤,通過上位機(jī)軟件對波形和數(shù)據(jù)進(jìn)行處理

28.方波脈沖發(fā)生器：幅值和脈寬可調(diào)，適用于探測不同材料，不同深度工件的缺陷

CUT-Z5高校試驗專用超聲波探傷儀基本性能：

二維編碼B掃描

高端探傷儀常用的二維色彩編碼B掃描功能。B掃描功能圖像式的觀察缺陷模式，能夠產(chǎn)生很好的對比效果，更便于缺陷的分析判斷。通過:灰度/彩色調(diào)色板還可以自動顯示缺陷危害程度，也可實(shí)時對比觀測A掃波形和B掃圖像

探傷與高精測厚一體

5條智能DAC曲線，符合JIS和API標(biāo)準(zhǔn)

CUT-Z5高校試驗專用超聲波探傷儀基本操作：

菜單人性化布局方便查找所有功能簡單使用

自動校準(zhǔn)：聲速、探頭延遲、角度/K值

技術(shù)材質(zhì)

全數(shù)字智能超聲波探傷儀采用國際先進(jìn)的數(shù)字集成和人工智能技術(shù)，全進(jìn)口器件組裝，顯示器件采用國際新型 TFT液晶顯示屏，各項性能指標(biāo)均達(dá)到或超過國際先進(jìn)水平。

全中文觸摸式鍵盤，手感好，直觀易記，操作過程中文提示及圖形顯示，內(nèi)置超高速處理器，數(shù)據(jù)計算即時顯示

CUT-Z5高校試驗專用超聲波探傷儀性能指標(biāo)

檢測范圍1.0~12000mm

檢測分辨率0.01mm(<100mm)1mm(>100mm)

聲速500~20000m/s  20個固定聲速

顯示延遲-20~3400us 分辨力: 0.1us

探頭延遲0~99us 分辨力: 0.01us

自動校準(zhǔn)通過兩個已知參考回波自動校準(zhǔn)聲速和探頭延遲

線性誤差水平≤0.1% 垂直≤3%

動態(tài)范圍≥36dB

靈敏度余量≥64dB 200mmФ2平底孔

外型尺寸225x120x48mm

重量1.5Kg（包括電池組）

工作環(huán)境溫度：-20℃~70℃濕度：5%～90%

激勵脈沖負(fù)尖脈沖，能量高/低可調(diào)

阻尼匹配50/150/400Ω

檢測模式脈沖回波/發(fā)射接收/透射

測量方式峰值/邊沿

增益     0~110dB   步距0/0.1/0.2/0.5/1/2/6/12/自定義

檢波方式正/負(fù)半波/RF/全波

頻率帶寬0.3~1 / 0.5~4 /2~15MHz

LCD 5.7"工業(yè)級寬溫高亮液晶

通道參數(shù)         90組

厚度值           10萬個，線性

波形參考         4幅參考波形

探頭連接         LEMO或BNC

通訊             RS232

語言             中英文

電池    高能鋰電池，具有卓越的過充過放保護(hù)    工作時間   可連續(xù)工作10小時以上

電源適配器  輸入100~240V/50~60Hz  輸出9VDC/4A

二維編碼B掃描厚度/輪廓掃描；灰度/彩色調(diào)色板設(shè)置

DAC DGS曲線可記錄30標(biāo)定點(diǎn)；自動增益；任意順序標(biāo)定；標(biāo)定/編輯兩種修正方式；考慮了材料衰減和表面補(bǔ)償因素；5條增益可調(diào)評估曲線符合JIS和API標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)配主機(jī)1個說明書1本直斜探頭各1個包裝箱1個探頭線1條充電器1個