干膜測(cè)厚儀LS221用于測(cè)量干膜厚度

干膜測(cè)厚儀廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。在這里還要特別強(qiáng)調(diào)一下，干膜測(cè)厚儀（https://www.linshangtech.cn/tech/tech558.html）的探頭只能測(cè)干膜不能接觸到水或濕的物質(zhì)。

在大家在使用的過(guò)程中一定得嚴(yán)格按照使用說(shuō)明進(jìn)行這樣才能夠不浪費(fèi)我們高價(jià)買來(lái)的儀器所能夠給我們帶來(lái)的價(jià)值。使用完成后一定要妥善清潔保管。

林上LS221干膜測(cè)厚儀產(chǎn)品參數(shù)：

測(cè)頭**端：紅寶石固定

測(cè)量原理：Fe：霍爾效應(yīng)/NFe：電渦流效應(yīng)

探頭類型：外置連線式

測(cè)量范圍：0.0-2000μm

分辨率：0.1μm：(0μm-99.9μm)

1μm：(100μm-999μm)

0.01mm：(1.00mm-2.00mm)

測(cè)量精度：≤±(3%讀數(shù)+2μm)

單位：μm / mil

測(cè)量間隔：0.5s

測(cè)量區(qū)域：? = 25mm

曲率半徑：凸面：5mm 凹面：25mm

基體厚度：Fe：0.2mm/NFe：0.05mm

顯示：128×48點(diǎn)陣LCD

干膜厚度的測(cè)量，必須在涂膜完全干燥后，采用干膜測(cè)厚儀進(jìn)行測(cè)定。常用的干膜測(cè)厚儀有：磁性測(cè)厚儀、固定探頭測(cè)厚儀、渦流儀和破壞性測(cè)厚儀。磁性厚度儀是目前廣泛應(yīng)用的，其中有一種筆式測(cè)厚儀，用于現(xiàn)場(chǎng)檢查十分便捷，不用于精密檢查。測(cè)量時(shí)，必須使筆尖的磁探頭接觸并垂直于涂層表面，當(dāng)彈簧的張力超過(guò)探頭對(duì)鐵基體的引力時(shí)，其筆**端的磁探頭從涂層表面斷開，其分開瞬間的讀數(shù)即為干膜厚度。