晶體測試儀

CX-117A晶體測試儀/PPM計

一 、主要功能： 頻率自校、頻率測量、PPm測量、周期測量、數據累計、功能設定

二、主要技術指標：
頻率測量范圍： 0.1Hz — 100MHz
頻率測量靈敏度：30mv
PPm測量：3KHz — 100MHz
PPm測量精度：≤1 PPm （1×10-6）
（可擴展0.1PPm ， 0.01 PPm）
中心頻率：0 Hz — 100 MHz任意設定
誤差設置范圍設定：± 1 — ± 999 PPm任意設定。
閘門設置：四檔 ，0.01s、 0.1s、1s三檔固定，
1檔閘門1ms — 10s可設，
每1mS為一階梯任意設定。
周期測量范圍：100 ms — 10 s
晶振穩定性：5 ×10-7 / 日
（可選 1 ×10-7/ 日，1 ×10-8 / 日）
時基頻率：OCXO--10MC

三、特點：
微機控制，可編程器件開發， 模塊化設計
100MHz同步等精度測量方式
SMT貼裝生產、工藝，全新小型化結構設計
9位LED顯示
PPm提示功能

四、可選配：
晶體測量匹配器：32.768KHz-20MHz 、20MHz-40MHz ,
40MHz-65MHz、65MHz-100MHz .

注：儀器配置
CX-117A晶體測試儀/PPm 1臺
連接電纜 2 根
電源線 1根
匹配器32.768KHz ～ 20MHz 1個
保險絲 2個
說明書 1份
合格證 1個